【*** 使用手冊(cè)】爐前碳硅分析儀又稱爐前快速鐵水分析儀、碳硅成份分析儀、碳硅當(dāng)量儀、熱分析儀?！　∈褂梅椒ā　?、現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)備工作：　　爐前碳硅分析儀應(yīng)安裝在溫度較低，灰塵相對(duì)較少的地方。不要把儀表置于陽光直射之下，否則，會(huì)影響儀表使用壽命及測(cè)試精度，安裝儀表的載體應(yīng)穩(wěn)固，防止儀表墜落。儀表交流電源的供電必須滿足儀表技術(shù)數(shù)據(jù)要求；儀表使用電源不可與大功率的動(dòng)力電源連接。儀表通電自檢通過完成；儀表與儀表支架連線良好準(zhǔn)確；連接熱分析支座和接通電源后，支架放上測(cè)量樣杯時(shí)儀表指示綠燈亮，將儀表預(yù)熱10分鐘以上方可進(jìn)行測(cè)試。　　2、測(cè)量過程：　　從熔爐中舀出鐵水，估計(jì)鐵水的溫度大約在1350——1280℃時(shí)倒入測(cè)量樣杯中，倒入鐵水時(shí)樣杯的熔液量不要太滿，不然可能會(huì)使鐵水濺出損壞儀表測(cè)量接插件及補(bǔ)償導(dǎo)線；測(cè)試時(shí)儀表此時(shí)千萬別動(dòng)儀表和樣杯，否則會(huì)導(dǎo)致測(cè)量失?。荒暇┤A欣通用型HXD-2C爐前快速碳硅分析儀大約1分45秒儀表測(cè)量自動(dòng)完成，儀表指示完成紅燈亮，測(cè)量完成，查看測(cè)量數(shù)據(jù)及分析測(cè)量信息結(jié)果后,及時(shí)取下測(cè)量樣杯，保護(hù)儀表測(cè)量接插件，防止接插件過度受熱降低壽命?！　∈褂米⒁馐马?xiàng)　　1、儀器檢測(cè)時(shí)，**要確保澆入澆樣杯中的鐵水溫度（即澆樣溫度，儀器檢測(cè)界面上顯示的zui大溫度 Tmax）在 1280℃——1330℃之間，但不能超過1370℃，否則會(huì)燒壞澆樣杯。這個(gè)zui大溫度不是用測(cè)溫槍測(cè)量的爐子中鐵水的溫度，爐子中鐵水的溫度應(yīng)大于這個(gè)zui大溫度 100℃或以上，因?yàn)殍F水在爐子到澆樣杯途中（勺子中）會(huì)降溫。　　2、檢測(cè)時(shí)爐子內(nèi)應(yīng)先去渣，保證鐵水清潔。若天氣較冷，盛鐵水的勺子要預(yù)先在爐子里加一下溫，否則鐵水在勺子中會(huì)降溫太快。　　3、南京聯(lián)創(chuàng)分析儀器有限公司的爐前快速碳硅分析儀檢測(cè)操作熟練后，你可以根據(jù)鐵水的碳含量適當(dāng)調(diào)整澆樣溫度，原則是：　　澆樣溫度大于初晶溫度(TL?50℃。碳含量高，初晶溫度低；碳含量低，初晶溫度高。　　4、按照熱分析技術(shù)試驗(yàn)方法，檢測(cè)必須是原鐵水。廢鋼、回爐料、廢鐵屑應(yīng)按冶煉的試驗(yàn)方法按量添加，廢鐵屑還要甄別鐵屑中的雜質(zhì)成份，三者都不能添加過度，否則儀器檢測(cè)數(shù)據(jù)欠佳甚至無法檢測(cè)。球化以后鐵水不能檢測(cè)碳硅成份?！　?、澆樣杯安裝到樣杯座上時(shí)應(yīng)檢查一下里面的黑色顆粒有無明顯掉落的現(xiàn)象，如有，則該樣杯不可用。鐵水澆入澆樣杯中不要太滿，離樣杯上沿口 0/5 厘米即可。否則溢出的鐵水會(huì)損壞樣杯座，并造成檢測(cè)誤差。測(cè)量完成后，應(yīng)馬上從樣杯座上取下紅熱樣杯，否則紅熱樣杯的傳導(dǎo)熱會(huì)逐漸將樣杯座燒壞。　　6、為了減少你單位其他用電設(shè)備可能對(duì)儀器造成的電磁干擾，請(qǐng)使用單獨(dú)的電源接線板為儀器供電 三方面判定激光粒度分析儀優(yōu)劣

　　激光粒度分析儀采用濕法分散技術(shù),具有操作簡便、輸出數(shù)據(jù)直觀等優(yōu)點(diǎn)，與傳統(tǒng)儀器比較，提高了時(shí)效和分析精度。

　　那么如何來判斷激光粒度分析儀的優(yōu)劣呢？主要看以下幾個(gè)方面：

　　1、粒度測(cè)量范圍：

　　粒度范圍寬，適合的應(yīng)用廣。不僅要看儀器所報(bào)出的范圍，而是看超出主檢測(cè)面積的小粒子散射（＜0.5μm）如何檢測(cè)。

　　***好的途徑是全范圍直接檢測(cè)，這樣才能保證本底扣除的一致性。不同方法的混合測(cè)試，再用計(jì)算機(jī)擬合成一張圖譜，肯定帶來誤差。

　　2、激光光源：

　　一般選用2mW激光器，功率太小則散射光能量低，造成靈敏度低；另外，氣體光源波長短，穩(wěn)定性擾于固體光源。

　　3、檢測(cè)器：

　　因?yàn)榧す庋苌涔猸h(huán)半徑越大，光強(qiáng)越弱，極易造成小粒子信/噪比降低而漏栓，所以對(duì)小粒子的分布檢測(cè)能體現(xiàn)儀器的好壞。