【*** 使用手冊】原子吸收光譜儀是一款在工業(yè)生產(chǎn)中應(yīng)用廣泛的分析檢測儀器，由于原子吸收光譜的性質(zhì)，一般可以測定多種元素，并且能夠?qū)σ?guī)定范圍的微量物質(zhì)進行檢測。同時，原子吸收光譜儀的氫化物發(fā)生器可以對汞、砷、鉛、硒、錫、碲、銻、鍺等揮發(fā)性元素進行測定，功能**強大。目前，市面上常見的原子吸收光譜儀一般是由光源、原子化系統(tǒng)、分光系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)組成。以下根據(jù)網(wǎng)上資料，對常見原子吸收光譜儀各系統(tǒng)部件進行簡述：　　1.光源：作為光源要求發(fā)射的待測元素的銳線光譜有足夠的強度、背景小、穩(wěn)定性，因此目前實際操作中較常采用空心陰極燈與無極放電燈這兩種光源?！　?.原子化器：一般原子化器可分為預(yù)混合型火焰原子化器、石墨爐原子化器、石英爐原子化器，陰極濺射原子化器。其中，火焰原子化器：由噴霧器、預(yù)混合室、燃燒器三部分組成，具有操作簡便、重現(xiàn)性好等優(yōu)點。而石墨爐原子化器，則是一類將試樣放置在石墨管壁、石墨平臺、碳棒盛樣小孔或石墨坩堝內(nèi)用電加熱至高溫實現(xiàn)原子化的系統(tǒng)。目前較常用于原子化器的是管式石墨爐，在進行原子化過程中，一般分為干燥、灰化、原子化、高溫凈化，具有原子化效率高、靈敏度高以及試樣用量少等優(yōu)點。而另一種石英爐原子化系統(tǒng)是將氣態(tài)分析物引入石英爐內(nèi)在較低溫度下實現(xiàn)原子化的一種方法，又稱低溫原子化法。它主要是與蒸氣發(fā)生法配合使用。此外，還有一種陰極濺射原子化器，則是通過利用輝光放電產(chǎn)生的正離子轟擊陰極表面，從固體表面直接將被測定元素轉(zhuǎn)化為原子蒸氣，實現(xiàn)原子化的目的。　　3.分光系統(tǒng)：常見分光系統(tǒng)一般是由凹面反射鏡、狹縫或色散元件組成，其中色散元件為棱鏡或衍射光柵，而單色器的性能則是指色散率、分辨率和集光本領(lǐng)等性能?！　?.檢測系統(tǒng)：檢測稀土中一般需要有檢測器、放大器、對數(shù)轉(zhuǎn)換器和電腦等部件組成，但根據(jù)實際操作要求，有些原子吸收光譜儀的檢測系統(tǒng)會有所差異?！　∮捎谫Y料有限，因此上述內(nèi)容并不**，具體實際結(jié)構(gòu)，應(yīng)根據(jù)相應(yīng)設(shè)備使用說明書進行分析。 X射線熒光光譜儀的試驗方法

　　X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的**尺寸要求為直徑51mm，高40mm。

　　X射線熒光光譜儀的基本試驗方法：

　　X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

　　用X射線照射試樣時，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。

　　X射線熒光光譜儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。

　　波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)Bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時式相結(jié)合的譜儀結(jié)合了兩者的優(yōu)點。