火花直讀光譜儀產(chǎn)品試驗流程說明和基本要求 光譜儀使用方法
時間:2023-01-07 09:32:02 作者:河北航信儀器 點擊:
【*** 使用手冊】火花直讀光譜儀是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應(yīng)用于冶金、機械及其他工業(yè)部門,進行冶煉爐前的在線分析以及**實驗室的產(chǎn)品檢驗,是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。 火花直讀光譜儀試驗方法的基本要求 火花直讀光譜儀經(jīng)光電轉(zhuǎn)換設(shè)備,轉(zhuǎn)變成為光電流。因此叫做譜線強度,從而直接測定此電流的方法稱為直接法,所以可以測量瞬時值,我們要是把這種電流向電容設(shè)備中充電,經(jīng)過一段時間之后,我們再測電容設(shè)備上的電壓大小稱積分法,我們所獲得的信號是充電時間內(nèi)的平均值。 因此,必須注意在光電轉(zhuǎn)換設(shè)備上所產(chǎn)生的光電流與光強成線性關(guān)系(由試驗而知,光電倍增管在光作用下所產(chǎn)生的光電流與光強的關(guān)系可能不成線性關(guān)系),并且要知道光電流與電容量上的電壓成線關(guān)系?! 』鸹ㄖ弊x光譜儀光電倍增管所產(chǎn)生的信號是很微弱的,因此必須放大,綜合利用直讀光譜儀對已經(jīng)放大的信號進行測量,但是不管怎樣,每種放大設(shè)備都是利用獲得的小信號的變化來控制大信號的變化的試驗方法產(chǎn)生的,既而有可能推動測量儀設(shè)備進行工作。在直讀光譜儀設(shè)備中,主要用的設(shè)備室低頻弱電放大設(shè)備,低頻便是指聲頻范圍以內(nèi)的工作頻率?! ∫虼耍鸹ㄖ弊x光譜儀的基本要求是積分電容設(shè)備上的電壓與光信號的強度成線性關(guān)系。光電直讀光譜分析的基本試驗方法和他所建立的分析方法是建立在攝譜法的基本試驗方法及其實驗技術(shù)基礎(chǔ)上,只是測定參數(shù)及數(shù)據(jù)處理方法不同而已。激發(fā)光源等離子體中的原子濃度決定了直讀光譜儀發(fā)射光譜的譜線強度。 火花直讀光譜儀分析法是依靠光電倍增管把光信號強度轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘柕膹姸?。有較多的儀設(shè)備采用將光電倍增管輸出的光電流向積分電容設(shè)備充電,測量直讀光譜儀積分電容設(shè)備上的電壓來表示譜線的強度的辦法。
直讀光譜儀何時擦透鏡才更好?
透鏡安裝在光譜儀的分光室和火花室之間,起隔離分光室和火花室及匯聚譜線的作用。激發(fā)**數(shù)量的試樣以后,火花室內(nèi)激發(fā)產(chǎn)生的灰燼等污染物及分光室內(nèi)真空泵長時間運轉(zhuǎn)蒸騰產(chǎn)生的油污分子會污染透鏡的兩個表面,降低透鏡的透光性,引發(fā)光強值下降。因此,每隔規(guī)定的時間或分析了**數(shù)量的試樣后,需要對透鏡進行擦洗,除去表面的污染物。 一般情況下測量的試樣越多,需要擦洗的越頻繁。每一、兩個月應(yīng)清理透鏡一次,在平時使用中,發(fā)現(xiàn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)會變大,一般情況下是由于透鏡的污染造成透光率下降所造成,此時必須進行透鏡的清潔工作了。取下透鏡的步驟: 1、按清理激發(fā)臺火花室的操作將激發(fā)臺取出,將激發(fā)臺檔板里側(cè)的光路開關(guān)由開、的位置Open、用手**撥到關(guān)的位置Close、?! ?、用手小心將光路部分向外拔出。不要過分彎曲附在光路通道上的細銅管。必須小心,緩慢、?! ?、擰松鎖緊夾,稍稍旋轉(zhuǎn)拉出透鏡座。用綢布蘸取酒精小心擦拭,或用流水沖洗,注意不要用硬物擦傷碰透鏡。 4、擦完透鏡后,先將透鏡裝回原位,注意將透鏡底座的兩個開口部分對準(zhǔn)使它的螺絲頭面低于透鏡底座或保持在同一平面,否則透鏡裝不合適?! ?、把光路開關(guān)由關(guān)Close**撥到開Open的位置,然后把光路部分小心裝上?! ?、按順序?qū)⒓ぐl(fā)臺及火花室部分裝好。***后別忘記用量規(guī)調(diào)整電極的距離,當(dāng)透鏡清理干凈后,別再用手指觸及他的表面?! ∶看尾料赐哥R時,要將透鏡取下,浸泡在無水乙醇或其他清洗液中數(shù)**鐘,再用干凈的綢布擦拭干凈后裝上。有N通道的光電直讀光譜儀使用的是表面涂有氟化鎂的透鏡,表面沾有少量的水分就會破壞氟化鎂涂層,因此不能浸泡在存放于密閉性能不好的容器中或者已經(jīng)使用了較長時間只剩下一點兒的清洗液中,也不能用綢布反復(fù)用力擦拭,否則會擦壞氟化鎂涂層。