【導(dǎo)讀】涂層測(cè)厚儀也叫覆層測(cè)厚儀，是一種用于測(cè)量金屬底材涂層厚度的專用儀器。由于涂層測(cè)厚儀品牌眾多，因此其操作方法也會(huì)有所差異。但總體而言，涂層測(cè)厚儀的操作步

涂層測(cè)厚儀也叫覆層測(cè)厚儀，是一種用于測(cè)量金屬底材涂層厚度的專用儀器。由于涂層測(cè)厚儀品牌眾多，因此其操作方法也會(huì)有所差異。但總體而言，涂層測(cè)厚儀的操作步驟還是大同小異的。

涂層測(cè)厚儀的使用

1.輕按電源鍵3-6,接通整機(jī)電源后，進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。

注意:本儀器在打開電源時(shí)，自動(dòng)進(jìn)行自檢。

為確保測(cè)量的準(zhǔn)確性，打開電源時(shí)的前后2秒鐘，**不要將測(cè)量探頭放在鐵基上，也不要將探頭靠近鐵基或其他磁性材料。

2.在確認(rèn)校準(zhǔn)正確的前提下，就可開始測(cè)量。若對(duì)以前的校準(zhǔn)有所懷疑的話，應(yīng)再進(jìn)行一次校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)的具體方法詳見儀器校準(zhǔn)部分。儀器一旦校準(zhǔn)，校準(zhǔn)結(jié)果將自動(dòng)存貯在儀器中，下次開機(jī)測(cè)量時(shí)，可不必再次進(jìn)行校準(zhǔn)，除非對(duì)測(cè)量的準(zhǔn)確性有懷疑。

3.捏住探頭前部約15mm處，將測(cè)量傳感器壓緊到被測(cè)涂層上，顯示器上的值即為待測(cè)涂層的測(cè)量值。

4.要進(jìn)行下次測(cè)量，必須將測(cè)量傳感器提起到10厘米以上，然后再重復(fù)第3點(diǎn)。

5.如有必要，測(cè)量值可通過加1鍵或減1鍵來(lái)修正。需要注意的是，按加1鍵或減1鍵時(shí)，測(cè)量探頭**要遠(yuǎn)離鐵基或其他被測(cè)體。

涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量數(shù)據(jù)的影響因素

薄涂層的測(cè)量準(zhǔn)確度和厚度沒有關(guān)系，是一個(gè)常數(shù)，厚涂層的測(cè)量準(zhǔn)確度是一個(gè)近似恒定的分?jǐn)?shù)和厚度的乘積。

基體磁性的變化會(huì)影響測(cè)量的數(shù)據(jù)，所以涂鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)時(shí)要采用材質(zhì)和試樣基體相同的校準(zhǔn)；采用待鍍產(chǎn)品做基體進(jìn)行儀器校準(zhǔn)，以避免不相同的集體或局部熱處理和冷加工影響測(cè)量數(shù)據(jù)。

涂鍍層測(cè)厚儀在靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量數(shù)據(jù)往往是不可靠的，這種效應(yīng)可能從不連續(xù)處向前延續(xù)約20mm。

涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量曲面時(shí)，數(shù)據(jù)隨曲率半徑的減小而明顯。

涂鍍層測(cè)厚儀探頭和試樣要保持清潔，因?yàn)橥鈦?lái)的附著塵埃會(huì)影響測(cè)量的數(shù)據(jù)。

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相關(guān)熱詞：

等離子清洗機(jī),反應(yīng)釜,旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀,高精度溫濕度計(jì),露點(diǎn)儀,**液相色譜儀價(jià)格,霉菌試驗(yàn)箱,跌落試驗(yàn)臺(tái),離子色譜儀價(jià)格,噪聲計(jì),高壓**器,集菌儀,接地電阻測(cè)試儀型號(hào),柱溫箱,旋渦混合儀,電熱套,場(chǎng)強(qiáng)儀**材料試驗(yàn)機(jī)價(jià)格,洗瓶機(jī),勻漿機(jī),耐候試驗(yàn)箱,熔融指數(shù)儀,透射電子顯微鏡。

【導(dǎo)讀】高溫超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射試驗(yàn)方法來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的； 當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭； 通過**測(cè)量超聲波

高溫超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射試驗(yàn)方法來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的；

當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭；

通過**測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。

凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此試驗(yàn)方法測(cè)量。

超聲波測(cè)厚儀操作指南

一般測(cè)量方法：

（1）在一點(diǎn)處用探頭進(jìn)行兩次測(cè)厚，在兩次測(cè)量中探頭的分割面要互為90°，取較小值為被測(cè)工件厚度值。

（2）30mm多點(diǎn)測(cè)量法：

當(dāng)測(cè)量值不穩(wěn)定時(shí)，以一個(gè)測(cè)定點(diǎn)為**，在直徑約為30mm的圓內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，取蕞小值為被測(cè)工件厚度值。

2、**測(cè)量法：在規(guī)定的測(cè)量點(diǎn)周圍增加測(cè)量數(shù)目，厚度變化用等厚線表示。

3、連續(xù)測(cè)量法：用單點(diǎn)測(cè)量法沿指定路線連續(xù)測(cè)量，間隔不大于5mm。

4、網(wǎng)格測(cè)量法：

在指定區(qū)域劃上網(wǎng)格，按點(diǎn)測(cè)厚記錄。此方法在高壓設(shè)備、不銹鋼襯里腐蝕監(jiān)測(cè)中廣泛使用。

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【導(dǎo)讀】即使相同的涂層測(cè)厚儀，不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測(cè)量出來(lái)的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別，這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面

即使相同的涂層測(cè)厚儀，不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測(cè)量出來(lái)的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別，這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測(cè)量位置等造成的。

使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說明書，不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同，因此使用前必須先仔細(xì)閱讀儀器的使用說明書，避免誤操作造成測(cè)量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。

注意金屬基體材質(zhì)：

不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的，這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同，導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同，因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

注意檢測(cè)試件形狀：

在實(shí)際生產(chǎn)中，工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異，這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響，如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度，檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變**敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠，實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變，還可能存在不同的曲率，一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此，即使在選擇儀器時(shí)考慮了***小曲率半徑，測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量。

以上也是在選擇測(cè)厚儀器時(shí)需要考慮***小曲率半徑、***小測(cè)量面積、***小基體厚度的原因。

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